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穩(wěn)定可靠的涂層測厚儀MiniTest 740

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穩(wěn)定可靠的涂層測厚儀MiniTest 740

 

SIDSP數(shù)字信號處理技術(shù):

EPK此項探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理新技術(shù)為涂層測厚領(lǐng)域的創(chuàng)新奠定了新標準。高精度,高重現(xiàn)性,對溫度變化不敏感,適應(yīng)性強,這些都是SIDSP®的主要特點。創(chuàng)新的生產(chǎn)技術(shù)結(jié)合自動化校準過程,而且每個探頭可獨立校準,從而生產(chǎn)出高質(zhì)量7400的探頭。

這主要源于充分利用了SIDSP技術(shù)賦予的優(yōu)勢。的精密生產(chǎn)過程使得每個探頭都如出一轍的優(yōu)質(zhì)。

簡單介紹:

穩(wěn)定可靠的涂層測厚儀MiniTest 740按照人體工學(xué)設(shè)計,外形很適合人手掌握,增加了測量速度設(shè)置選項,輕松變換測量需求。所有型號都配有一個超大、背光的顯示屏,顯示內(nèi)容可以180度旋轉(zhuǎn),方便您讀取數(shù)據(jù)。儀器具備聲、光報JING,在極限范圍內(nèi)用綠色LED燈表示,超過極限值則用紅色LED燈提示。

具有高重現(xiàn)性和高精度特性的新的SIDSP F型探頭(測量鐵基體)和N型探頭(測量非鐵基體)

具有*的抗干擾性和加長電纜的內(nèi)置可變外置的探頭

對溫度變化不敏感,內(nèi)置溫度補償編碼的SIDSP探頭

適應(yīng)性強,可隨意轉(zhuǎn)換測量模式的SIDSP探頭

SIDSP N和FN型探頭基體導(dǎo)電性補償,SIDSP電渦流探頭可以適應(yīng)多種導(dǎo)電性不同的非鐵基體材料,如銅,鈦,等等,無需特別在基體上校準儀器。

技術(shù)參數(shù):

主機型號

MINITEST 720

MINITEST 730

MINITEST 740

探頭類型

內(nèi)置

外置

內(nèi)置外置可換

數(shù)據(jù)記憶組數(shù)

10

10

100

存儲數(shù)據(jù)量

zui多10,000個

zui多10,000個

zui多100,000個

統(tǒng)計值

讀值個數(shù)、zui小值、zui大值、平均值、標準方差、變異系數(shù)、組統(tǒng)計值(標準設(shè)置/自由配置)

校準程序符合標準和規(guī)范

ISO、SSPC、瑞典標準、澳大利亞標準

校準模式

出廠設(shè)置校準、零點校準、兩點校準、三點校準,使用者可調(diào)節(jié)補償值

極限值監(jiān)控

聲、光報警提示超過極限

測量單位

μm,mm,cm;mils,inch,thou

操作溫度

-10℃~60℃

存放溫度

-20℃~70℃

數(shù)據(jù)接口

IrDA 1.0(紅外接口)

電源

2節(jié)AA電池

標準

DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840
ASTM B244,B499,D7091,E376
AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2

體積

157mm x 75.5mm x 49mm

重量

約175g

約210g

約175g(內(nèi)置)/230g(外置)

-SIDSP使測量不受干擾,測值更加,

-可更換探頭使用更加靈活(MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置)
-FN探頭自動識別基體,使測量更迅速,避免操作錯誤
-溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤
-生產(chǎn)過程中50點校準使儀器獲得高度的特征曲線
-大存儲量,能存儲10或100組多達100,000個讀數(shù)
-讀數(shù)和統(tǒng)計值能單獨調(diào)出
-超大,背光顯示屏,顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
-菜單指引操作,25種語言可選
-帶IrDA接口,紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機和PC
-可下載更新軟件

 

篤摯儀器(上海)有限公司的產(chǎn)品和系統(tǒng)方案廣泛應(yīng)用于大中型國有企業(yè)、汽車制造業(yè)、精密機械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專院校等研究實驗室和生產(chǎn)線、質(zhì)量控制和教育事業(yè),用于評價材料、部件及結(jié)構(gòu)的幾何特征和理化性能,推動著精良制造技術(shù)的精益求精。

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