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ELEKTROPHYSIK MiniTest740測厚儀概況

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ELEKTROPHYSIK MiniTest740測厚儀概況

 

-創新的SIDSP(探頭內部數字信號處理)技術提升了測量的性

-測量范圍達15mm,可更換F、N或FN探頭,供內置或外接探頭使用

-FN探頭自動識別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體,操作方便不易出錯

 

SIDSP技術-技術,智能數字化的涂層測厚探頭 
模擬信號處理時代已成過去,數字信號處理將成為未來的趨勢

MiniTest740測厚儀采用的SIDSP是什么?
SIDSP是由ElektrPhysik(簡稱EPK)研發的,良好的涂層測厚探頭技術。EPK此項技術為涂層測厚領域的創新奠定了新標準。
SIDSP即探頭內部數字信號處理,這項技術使探頭在測量時,同時在探頭內部將信號*處理為數字形式。SIDSP探頭*依據世界*技術生產。

MiniTest740測厚儀SIDSP工作原理?
跟傳統技術不同,SIDSP在探頭頂部產生和控制激發信號,回傳的信號經過32位數字轉換和處理,帶給您的涂層厚度值。此項的數字處理技術,同時應用在現代通訊技術(手機網絡)方面,如數字濾波器,基帶轉換,平均值,隨機分析,等等。此項技術能獲得與模擬信號處理*的信號質量和度。厚度值通過探頭電纜數字化傳輸到顯示裝置。
SIDSP探頭與普通模擬探頭相比,具有決定性的優勢,為涂層測厚設定了一個新的標準。

 

MiniTest740測厚儀為什么選擇SIDSP?
SIDSP探頭具有*的抗干擾性
任何與測量相關的信號,都由SIDSP在靠近探頭頂部的位置進行處理。測量信號不會通過探頭電纜傳輸時受到干擾,因為不再有測量信號的傳輸。探頭電纜僅僅為探頭供電,并傳輸數字化的厚度值到顯示裝置。即使您的測量工件需要特別長的電纜線也沒問題,加長的電纜線同樣具有*的抗干擾能力。

SIDSP-測量信號高穩定性
EPK的SIDSP探頭具有*的重現性。將探頭放在同一測量點測量幾次,每次您都可以得到基本一樣的結果,再次證明了SIDSP探頭的性能。

SIDSP探頭對溫度變化不敏感。

在生產過程中,對每個SIDSP探頭都進行了溫度補償的編碼,這對于模擬探頭是根本不可能實現的。這樣溫度改變就不會影響測量,與溫度相關的錯誤不會在SIDSP探頭上發生

SIDSP探頭適應性強

需要快速測量幾個點嗎?只要開啟快速測量模式,探頭自動轉換到特定設置。想進行高精度測量嗎?沒問題,只要選擇高精度模式,儀器同樣能自動轉換。不論您要求測量單個數值還是連續測量,SIDSP都能完成您的選擇!

 

優點一覽

SIDSP使測量不受干擾,測值更加
-可更換探頭使用更加靈活(MINITEST 740探頭可由內置換為外置)
-FN探頭自動識別基體,使測量更迅速,避免操作錯誤
-溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤
-生產過程中50點校準使儀器獲得高度的特征曲線
-大存儲量,能存儲10或100組多達100,000個讀數
-讀數和統計值能單獨調出
-超大,背光顯示屏,顯示內容可180度旋轉
-菜單指引操作,25種語言可選
-帶IrDA接口,紅外線傳輸數據到打印機和PC
-可下載更新軟件

 

ELEKTROPHYSIK MiniTest740測厚儀概況


型號 
特性

MINITEST 720

MINITEST 730

MINITEST 740

探頭類型

內置

外置

內置外置可換

數據記憶組數

10

10

100

存儲數據量

zui多10,000個

zui多10,000個

zui多100,000個

統計值

讀值個數,zui小值,zui大值,平均值,標準方差,變異系數,組統計值(標準設置/自由配置)

校準程序符合標準和規范

ISO,SSPC,瑞典標準,澳大利亞標準

校準模式

出廠設置校準零點校準2點校準3點校準,使用者可調節補償值

極限值監控

聲、光報警提示超過極限

測量單位

um,mm,cm;mils,inch,thou

          

操作溫度

-10℃-60℃

存放溫度

-20℃-70℃

數據接口

IrDA 1.0(紅外接口)

電源

2節AA電池

標準

DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840
ASTM B244,B499,D7091,E376
AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2

體積

157mm x 75.5mm x 49mm

重量

約175g

約210g

約175g(內置)/230g(外置)

 

篤摯儀器(上海)有限公司

:張磊

:         

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